홍보자료

제목 미르기술, 최첨단 자동화 광 검사 장비 라인 선보일 예정
조회수 1747 작성일 2018.05.16

2010/03/22, 월요일 
미르기술은 SMT & NEPCON Korea 2010 전시회와 APEX 2010 전시회에서 최첨단 AOI 및 SPI 시스템 라인을 선보일 예정이다. 박찬화 대표는 “수많은 상을 받아온 검사 장비들이 최첨단 기술로 향상되어 전시회에서 선보일 수 있게 되어 매우 기쁘다”면서 “우리는 이번 전시회에서 미르기술의 새로운 15 Mega Pixel ISIS 비전 시스템을 발표하게 되어 매우 기쁘다. 프로토타입으로 개발 중이지만, 우리는 이 새로운 기술이 검사 장비 산업 분야에 더욱 뛰어난 속도와 성능을 제시할 것이라고 확신하다. 새롭고 흥미로운 기술을 고객들과 함께 하기를 고대한다”라고 말했다.

미르기술은 MV-7 Series를 비롯해 MV-3L 데스크톱 AOI 장비, MS-11 In-Line SPI 시스템을 선보일 계획이다. MV-7xi 인라인 AOI 시스템은 완벽하게 구성이 가능해 하나의 탑 다운 뷰 500만 화소 카메라의 프리시젼 9.8 Micron Telecentric 컴파운드 렌즈 및 500만 화소의 사이드 뷰 카메라 4대가 장착되어 있다. MV-3L Desktop AOI 시스템은 업계에서 가장 폭넓게 채택된 파이브 카메라 데스크톱 AOI 시스템으로, 탑 다운 뷰 500만 화소 카메라를 구성할 수 있다. MS-11 In-Line SPI 시스템은 PCB 포스트 스크린 프린트에서 솔더 페이스트 침착을 검사할 수 있는 섀도우 프리 모아레 위상 변경 이미징 기술이 사용되었다.