제목 | [전자신문] 미르기술 AOI장비 전시회에서 호평 | ||
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조회수 | 4070 | 작성일 | 2018.05.17 |
검사장비 제조업체 미르기술은 최근 열린 '한국전자제조산업전(EMK 2018)'에서 자사 검사장비가 호평을 받았다고 밝혔다. 특히 2D/3D AOI 장비 MV-6e 옴니(OMNI)가 주목을 받았다. 이 장비는 우수한 성능에 합리적인 가격을 갖춘 실속형 검사기로 자체 개발한 15~25메가픽셀 카메라와 8단 조명을 적용해 동급 대비 최고 성능을 갖췄다. 고해상도 이미지로 정밀한 검사가 가능하고 완벽한 3D측정으로 2D로 검출하기 어려운 미세 들뜸 불량을 완벽하게 검출할 수 있다. 부품당 32장의 모아레 이미지를 얻어 부품의 정확한 높이와 볼륨을 측정한다. 장파장·단파장 패턴을 조합해 3D 형상을 구현하며 극소형 미소부품과 대형 부품 측정에 모두 대응한다. 미르기술은 18년간 다양한 검사 알고리즘을 축적했다. 검사 알고리즘은 측정 이후 양품, 불량을 구별해내는
핵심 SW기술이다. 미르기술 알고리즘은 부품과 납땜의 어떤 불량도 찾아낼 수 있다. 조명과 색상, 문자인식에 강점을 갖고 있다고
회사는 밝혔다. |