Smart Factory Solutions
Industry 4.0 Ready Solution_Intellisys® は検査データを長期間の累積取りまとめてビッ
グデータを構成して、統計的方法論を通じて解釈して不良の根本原因を追跡します。 また、
遠隔地で装備を管理ㆍ制御して問題を解決することで、工程を効率的に改善します。
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AOI
業界最高性能のカメラ、プロジェクタ及び照明が適用されたミルテックのAOIは精密な測定、
鮮明なイメージ、高度の解析アルゴリズムを組み合わせて最上の検査環境を構築します。
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SPI
ミルテックのSPIは他の一般的なSPIに比べて、大幅に高い光学技術が適用され、高い精度と反
復度を確保しており、これをもとに極少量のはんだのペーストでも不良を検出したことに一般
SMTはもちろん、半導体生産まで問題なく対応します。
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SEMI / LED
ミルテックの独歩的な技術力で半導体、
LED生産顧客のどのような検査問題でも解決策を見つけます。
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